KTITHLEY 數(shù)字源表
標(biāo)準(zhǔn)電池
? 追溯性：AIST，NREL ，NIM或其他計(jì)量機(jī)構(gòu)；
? 標(biāo)準(zhǔn)電池尺寸：20mm*20mm，材質(zhì)單晶硅電池；
? 窗口玻璃可選：以對(duì)不同的光譜吸收范圍；
? 內(nèi)置PT100標(biāo)準(zhǔn)溫度傳感器；
? 認(rèn)證機(jī)構(gòu)出具證書(shū)；
? 附帶測(cè)試數(shù)據(jù)。
1. IV特性曲線
（1）光照條件下，單次測(cè)試（包含正向電壓掃描和反向電壓掃描）
記錄光電池IV特性曲線，并輸出各項(xiàng)指標(biāo)參數(shù)，包括Voc（開(kāi)路電壓）、Isc（短路電流）、Pmax、Vmaxp、Imaxp、Rs（串聯(lián)電阻）、Rsh（并聯(lián)電阻）、Jsc（短路電流密度）、FF（填充因子）、η（發(fā)光效率），同時(shí)可以查看整個(gè)象限的IV曲線；
（2）光照條件下，連續(xù)多次測(cè)量（包含正向電壓掃描和反向電壓掃描）
記錄光電池當(dāng)前及多次測(cè)量疊加的IV特性曲線，并實(shí)時(shí)顯示每次測(cè)試結(jié)果的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，對(duì)多次測(cè)量的間隔時(shí)間可以進(jìn)行自定義設(shè)置；
（3）電壓掃描方向控制
用戶可以根據(jù)需要，進(jìn)行單次、多次的正向或反向掃描電壓IV測(cè)試，也可以進(jìn)行單次、多次的正反向電壓交替測(cè)試；
（4）暗態(tài)下，測(cè)量電池的并聯(lián)電阻Rsh，包括單次測(cè)量和多次連續(xù)測(cè)量；
2.太陽(yáng)光模擬器校準(zhǔn)
采用標(biāo)準(zhǔn)光電池對(duì)太陽(yáng)光模擬器的強(qiáng)度進(jìn)行校準(zhǔn)；
3.暗態(tài)測(cè)試
測(cè)量串聯(lián)電阻Rs，檢驗(yàn)電池樣品的特性；
4.穩(wěn)態(tài)（偏壓）測(cè)試
在 Vpmax 或者指定偏壓下，測(cè)量效率η 、電流密度 Jsc、電流 I 和功率點(diǎn) Pmax 隨時(shí)間 t的穩(wěn)定性曲線；
5.MPPT追蹤測(cè)試
正向或者反向掃描，始終追蹤并測(cè)量Pmax功率點(diǎn)隨時(shí)間的變化；同時(shí)測(cè)量該條件下對(duì)應(yīng)的 Vmpp 、Impp 和η 轉(zhuǎn)換效率隨時(shí)間的變化曲線；
6.Repeatability Test重復(fù)性測(cè)試
測(cè)量太陽(yáng)能電池各項(xiàng)參數(shù)在多次測(cè)量或隨時(shí)間的衰減曲線；
7.數(shù)據(jù)自動(dòng)保存功能：CSV,TXT,RTF 和JPG截屏。
